+7 812 383 99 41

Свяжитесь с нами Начать диалог в Ватсап

Товары собственного производства

конкурентные цены

высокое качество

индивидуальный подход

 Аксессуары для сканирующей электронной микроскопии 

Держатели и крепления для образцов PELCO® EBSD и трансмиссионной EBSD с предварительным наклоном

Держатели и крепления для образцов PELCO® EBSD и трансмиссионной EBSD с предварительным наклоном

На сайте нашего поставщика доступен широкий выбор многофункциональных держателей образцов для EBSD и t-EBSD, которые могут использоваться в РЭМ, FESEM и FIB системах со стандартным штифтовым или M4 креплением. С предварительно наклоненными держателями нет необходимости наклонять платформу с образцом. Это позволяет избежать смещения и быстро настроить систему для EBSD-анализа. Держатели с предварительным наклоном 70° включают держатели петрографических слайдов и держатели металлографических образцов. Для некоторых больших держателей требуется камера для образцов большего размера и более крупный штатив. В зависимости от доступного рабочего расстояния, перемещения по z и максимальной высоты образца, обеспечиваемой штативом для образца в РЭМ, для получения оптимального рабочего расстояния можно добавить удлинители шлейфа и адаптеры штатива.

Держатели EBSD с резьбовым отверстием M4 могут быть присоединены к платформе SEM (Hitachi, JEOL, Amray и т.д.) с помощью сменных держателей и адаптеров, также доступных на сайте поставщика.

Держатели EBSD с резьбовым отверстием M4 можно использовать в качестве держателя для штифтового крепления с помощью адаптера M4 для штифтового крепления (см. на сайте поставщика).

Держатели образцов со штыревым креплением для СЭМ

Для сканирующей электронной микроскопии (используются на РЭМах FEI/Philips, ZEISS, LEO, Leica, Cambridge Instruments, CamScan и Tescan).

Держатели образцов со штыревым креплением для СЭМ

Большой выбор держателей образцов для РЭМ, FESEM и FIB систем, использующих стандартное штыревое крепление 3,2 мм (1/8"). Для некоторых держателей большего размера требуется более просторная камера для образцов и более крупный штатив. В зависимости от доступного расстояния, Z-перемещения и максимальной высоты образца, обеспечиваемой платформой для образца в РЭМ, для получения оптимальной рабочей высоты могут быть добавлены удлинители штыревого штыря. Эти держатели образцов также могут использоваться на РЭМ JEOL, если используется адаптер штыревого крепления к цилиндрическому креплению JEOL (#15362, #15362-12, #15362-15, #16153-9 или #16216-9).

Пожалуйста, выбирайте из широкого ассортимента держателей на сайте нашего поставщика, и покупайте в «Биотехнологии».

Держатели для планшетов

различных диаметров, доступны как с 6-мм штифтом, так и с резьбой M4.

Держатели для планшетов

Низкопрофильные держатели для планшетов из углерода и стекловидного углерода с креплением на штифт или M4. Эти держатели планшетов разработаны для удобства использования с отверстием, позволяющим использовать пинцет для установки и извлечения планшета, а также с небольшим пружинным зажимом для надежной фиксации планшета на месте и для учета небольших различий в диаметре планшета. Низкий профиль этих держателей при использовании с Ted Pella, Inc. Carbon и Vitreous Carbon Planchets обеспечивает хороший доступ к поверхности планшета. Доступны для всех распространенных метрических и дюймовых диаметров углеродных и стекловидных углеродных планшетов. Версии со штырьком имеют съемный универсальный штырек 3,2 мм x 6 мм.

Пожалуйста, выбирайте на сайте поставщика и приобретайте в «Биотехнологии».

Держатели и крепления штыревого типа для Thermo Scientific/FEI, Zeiss/LEO, TESCAN

Держатели и крепления штыревого типа для Thermo Scientific/FEI, Zeiss/LEO, TESCAN

На сайте нашего поставщика представлен полный спектр держателей и креплений штыревого типа, подходящих для  электронных микроскопов Thermo Scientific/FEI, Zeiss/LEO и TESCAN.

Резьбовые, цилиндрические и другие втулки и крепления M4 для Hitachi, JEOL и Cambridge

Резьбовые, цилиндрические и другие втулки и крепления M4 для Hitachi, JEOL и Cambridge

Также у нашего поставщика есть резьбовые, цилиндрические и другие втулки и крепления M4 для электронных микроскопов Hitachi, JEOL и Cambridge. Выбирайте и заказывайте в «Биотехнологии».

Модульная система держателей образцов для РЭМ PELCO®

Модульная система держателей образцов для РЭМ PELCO® предлагает наиболее полный и экономически эффективный ассортимент держателей образцов, доступных сегодня, с полной взаимозаменяемостью между моделями или марками РЭМ. Если вы используете разные модели РЭМ в одном месте или ваш новый РЭМ от другого производителя, вы можете продолжать использовать модульные держатели образцов для РЭМ PELCO®, добавив только соответствующий адаптер для платформы РЭМ. Держатели образцов для РЭМ PELCO® предоставляют возможности, недоступные производителям РЭМ или держателям образцов, поставляемым вместе с РЭМ. Новые держатели образцов добавляются на регулярной основе.

Особенности модульной системы держателей образцов для РЭМ PELCO®:

  • Полная взаимозаменяемость между платформами РЭМ
  • Адаптеры платформ для всех марок РЭМ:
    • Hitachi
    • FEI / Philips
    • JEOL
    • ZEISS / LEO
    • Tescan
    • Amray
    • ISI / ABT / Topcon
    • CamScan
    • LEICA / Cambridge instruments
  • Встроенные контакты заземления
  • Простая загрузка/выгрузка образцов
  • Низкопрофильные версии, совместимые с воздушными замками
  • Держатели для одного и нескольких образцов
  • Смешивайте, подбирайте и модернизируйте в соответствии с вашими потребностями

Все модульные держатели образцов PELCO® для РЭМ имеют резьбовое соединение M4 и совместимы с любыми РЭМ Hitachi с адаптером платформы с резьбой M4.

Модульные адаптеры для платформ SEM

Модульные адаптеры для платформ SEM и модульные держатели вы можете выбрать на сайте нашего поставщика и купить в «Биотехнологии».

Адаптеры для крепления образцов SEM

Адаптеры для крепления образцов SEM
Эта линейка адаптеров для крепления образцов для РЭМ позволяет использовать все существующие типы креплений на всех современных РЭМ. Штыревые крепления, распространенные на РЭМ FEI/Philips, ZEISS/LEO, Cambridge Instruments, Leica, Amray, Tescan и CamScan, могут использоваться на РЭМ JEOL, Hitachi и ISI/ABT/Topcon и наоборот.

Пожалуйста, выбирайте адаптеры для крепления образцов SEM на сайте нашего поставщика и заказывайте в «Биотехнологии».

Адаптеры для платформ SEM

Адаптеры для платформ SEM
Предлагаемые здесь адаптеры для платформ SEM аналогичны оригинальным адаптерам для платформ SEM от производителя SEM. Они предназначены для замены или установки дополнительных адаптеров на держатели образцов от производителя SEM.

Пожалуйста, выбирайте адаптеры для платформ SEM на сайте нашего поставщика и покупайте их в «Биотехнологии».

PELCO® Универсальный набор держателей для образцов РЭМ

PELCO® Универсальный набор держателей для образцов РЭМ
Универсальный набор держателей образцов для РЭМ PELCO® расширяет возможности вашего РЭМ, предлагая удобные держатели для образцов больших размеров или неудобной формы, нескольких образцов, поперечных сечений или предварительной наклонной визуализации. Этот универсальный набор держателей образцов может быть использован в большинстве марок РЭМ, поскольку включает адаптеры для штыревого крепления для FEI/Philips, ZEISS/LEO/Leica, Tescan. В комплект также входит адаптер с креплением 12,2 мм для JEOL, а держатели имеют резьбу M4, совместимую с РЭМ Hitachi. Набор поставляется в пластиковой стироловой коробке с удобным пластиковым лотком для держателей образцов, чтобы хранить держатели без пыли и готовыми к использованию.

Выгодный по цене набор держателей образцов PELCO® Universal SEM содержит следующие держатели/компоненты:

  • #15342-4 Универсальные пружинные тиски
  • #15340-4 Микро тиски
  • #15310-4 Мультидержатель для 4 стандартных 12,7 мм штырьков
  • #16327-30 SEMClip™ 25 мм с 3 зажимами, плоский
  • #16357-20 SEMClip™ 25 мм 45°/90° с 2 зажимами
  • #15319 Стандартный штырьковый адаптер на M4 (2 штуки)
  • #15319-9 Короткий штырьковый адаптер на M4 (ZEISS)
  • #15319-2 Длинный штырьковый адаптер на M4 (Amray)
  • #15367-25 JEOL 12.2 адаптер для штифтов на M4
  • Пластиковая коробка с лотком для держателя образцов
  • Шестигранные ключи

Информация для заказа

16430 PELCO® Universal SEM Sample Holder Set

Крепления для образцов, держатели и расходные материалы для настольного РЭМ Phenom

Настольный РЭМ Phenom
Для использования в настольных РЭМ Phenom на сайте нашего поставщика предлагается широкий ассортимент креплений и держателей образцов. Крепления для образцов с широко используемыми 3,2-мм (1/8") штифтовыми креплениями подходят непосредственно к уникальному устройству загрузки образцов Phenom. Широкий выбор специальных держателей и креплений, доступных для Phenom, позволяет легко исследовать большое количество образцов.

Простота монтажа образцов сделает Phenom SEM совместимым с большим количеством приложений и повысит производительность. Также имеются адаптеры для установки небольших цилиндрических креплений, которые используются в сканирующих электронных микроскопах других марок. Это позволит пользователям Phenom совместно использовать крепления для образцов, применяемые в других платформах СЭМ.

Крепления и держатели образцов для Hitachi TM4000, TM3030, TM3000 и TM1000 настольных РЭМ

Hitachi TM4000, TM3030, TM3000 и TM1000
Полный ассортимент креплений и держателей образцов, изготовленных специально для настольных сканирующих электронных микроскопов Hitachi TM4000/TM3030/TM3000/TM1000 доступен для выбора на сайте нашего поставшика. Крепления для образцов с резьбовым отверстием M4 напрямую совместимы с адаптерами платформ TM4000/TM3030/TM3000/TM1000 и доступны с диаметрами 15, 25 и 32 мм. Большое крепление для образца диаметром 32 мм позволяет устанавливать несколько небольших образцов или один большой образец.

Широкий выбор специальных держателей образцов, созданных для Hitachi TM4000/TM3030/TM3000/TM1000, позволит использовать большее разнообразие образцов. Простота установки образцов сделает TM4000/TM3030/TM3000/TM1000 более производительным и даст доступ к большему числу приложений. Также имеются адаптеры для установки штыревых креплений и маленьких цилиндрических креплений, которые используются в других сканирующих электронных микроскопах. Это позволит пользователям TM4000/TM3030/TM3000/TM1000 использовать крепления для образцов, применяемые на других платформах SEM.

Крепления и держатели образцов PELCO® для настольной РЭМ JEOL NeoScope

(этот электронный микроскоп распространяется исключительно компанией Nikon)

РЭМ JEOL NeoScope
Широкий ассортимент держателей образцов PELCO®, доступный на сайте нашего поставщика, был разработан специально для использования в настольных РЭМ JEOL NeoScope JCM-6000 и JCM-5000 (распространяемых компанией Nikon). Это позволит пользователям РЭМ Neoscope легко устанавливать широкий спектр образцов. Чтобы использовать держатели образцов, стандартный адаптер необходимо заменить на NeoScope Stage Adapter Kit (#15398). Комплект NeoScope Stage Adapter Kit включает в себя адаптер основания, 2 регулируемые по высоте стойки с резьбой M4 и измеритель высоты. Все держатели образцов имеют отверстие с резьбой M4 и устанавливаются непосредственно на адаптер с регулируемой высотой.

Широкий ассортимент держателей образцов PELCO® позволит исследовать большее разнообразие образцов. Простота установки образцов сделает NeoScope Benchtop SEM более производительным и даст доступ к большему числу приложений. Имеются также адаптеры для крепления штифтовых креплений, которые используются в других сканирующих электронных микроскопах. Цилиндрические крепления с резьбовым отверстием M4 устанавливаются непосредственно на регулируемую по высоте стойку. Эта расширенная универсальность позволит пользователям NeoScope Benchtop SEM использовать крепления для образцов, применяемые на других платформах SEM.

Мы также предлагаем стандартные 25-мм цилиндрические крепления JEOL, которые можно использовать на держателе образцов, поставляемом с настольными РЭМ NeoScope JCM-6000 и JCM-5000.

Крепления и держатели образцов для ЭМ Keysight 8500 FE-SEM

Keysight 8500 FE-SEM
Для использования в компактном электронном микроскопе Keysight 8500 FE-SEM наш поставщик предлагает широкий ассортимент креплений и держателей образцов. Крепления для образцов с резьбовым отверстием M4 напрямую совместимы с адаптерным штифтом Keysight 8500 FE-SEM, используемым в челноке для образцов. При условии правильной установки высоты образца можно использовать различные штифтовые крепления непосредственно в челноке для образцов.

Широкий выбор специальных держателей и креплений, доступных для Keysight 8500 FE-SEM, позволит легко исследовать большое разнообразие образцов. Простота установки образцов сделает Keysight 8500 совместимым с большим количеством приложений и повысит производительность. Имеются также адаптеры для установки штыревых креплений или небольших цилиндрических креплений, которые используются в сканирующих электронных микроскопах других марок. Это позволит пользователям Keysight 8500 FE-SEM использовать крепления для образцов, применяемые на других платформах SEM.

Материалы для калибровки РЭМ

Материалы для калибровки РЭМ

Для проверки увеличения и соблюдения FIB стандартов могут быть использованы специальные материалы, доступные на сайте нашего поставщика. Также там можно выбрать материалы для проверки стандартов EDS/WDS/EPMA/XPS, разрешения СЭМ и оценки производительности. Заказывайте все это в «Биотехнологии».

Слюдяные и монокристаллические подложки, опоры и пластины для образцов кремниевых чипов, кремниевые пластины, предметные стекла и крышки с золотым покрытием

Слюдяные подложки для АСМ, ТЭМ и СЭМ.

Слюдяные и монокристаллические подложки, опоры и пластины для образцов кремниевых чипов, кремниевые пластины, предметные стекла и крышки с золотым покрытием

Свежеочищенные поверхности мусковитовой слюды имеют превосходную ровную поверхность, оптически ровные, чистые, прозрачные, без царапин и отпечатков пальцев. Они очень полезны в электронной микроскопии для получения углеродных опорных пленок, визуализации частиц, выращивания клеток и исследования тонкопленочных покрытий. Поверхность мусковитовой слюды также подходит в качестве подложки для исследований с помощью атомно-силовой микроскопии высокого разрешения, таких образцов, как ДНК, ДНК-белок и тонкие пленки.

Расщепление слюды включает в себя введение острого края или острия в край или угол листа и осторожное раздвигание листов. С этой задачей справится хороший острый край лезвия бритвы, а в некоторых случаях это можно сделать остроконечным пинцетом. Свежеоткрытую микроповерхность следует использовать сразу после расщепления, чтобы воспользоваться преимуществами чистой и ровной поверхности. Мусковитовая слюда высекается по предлагаемым размерам. Толщина листов слюды варьируется в пределах 0,18 - 0,25 мм (0,007 - 0,01 дюйма), что позволяет получить гораздо более тонкие, однородные листы.

Расщепление также может быть достигнуто путем помещения куска ленты с двойным покрытием на поверхность слюды и осторожного оттягивания слоя слюды, начиная с одного края. Затем поместите слюду стороной с лентой вниз на диск с образцами или монтировку. Слюда мусковита расщепляется по плоскости. Цвет рубинового мусковита варьируется от почти белого через розовый до светло-рубинового и оттенков коричневато-рубинового и коричневого. Он считается более качественным (по сравнению с зеленым мусковитом) из-за твердости и отличных свойств спайности, позволяющих раскалывать его на тончайшие пленки без риска растрескивания. Он оптически плоский, упругий и несжимаемый. При расщеплении на тонкие пленки вдоль плоскостей спайности она остается прочной и эластичной даже при высоких температурах. Химически слюда представляет собой сложный гидросиликат алюминия, содержащий калий, магний, железо, фтористый натрий и/или литий и следы других элементов. Она стабильна и инертна к воде, кислотам (кроме плавиковой и концентрированной серной), щелочам, обычным растворителям и маслам. Слюда, доступная на сайте нашего поставщика, имеет минимум включений, минимум воздуха и пузырьков и является чистой. Стандарт ASTM D-351 описывает стандарты сортировки слюды.

Станции подготовки образцов для СЭМ PELCO®

Для сканирующей электронной микроскопии.

Станции подготовки образцов для СЭМ PELCO®

У нашего поставщика можно выбрать недорогие станции для подготовки образцов для СЭМ. На них удобно держать образцы перед анализом.

Проводящие клейкие ленты, ленты и листы (углерод, алюминий, медь, серебро)

Токопроводящие клеящие материалы для сканирующей электронной микроскопии.

Проводящие клейкие ленты, ленты и листы (углерод, алюминий, медь, серебро)

Наш поставщик предлагает к выбору разнообразные токопроводящие клеящие материалы для сканирующей электронной микроскопии: проводящие клейкие ленты, ленты и листы (углерод, алюминий, медь, серебро). Выбирайте на сайте поставщика и заказывайте в «Биотехнологии».

Краска для СЭМ, паста, аэрозоль — проводящий клей

Клеи для подготовки образцов для сканирующей электронной микроскопии.

Краска для СЭМ, паста, аэрозоль — проводящий клей

Также у нашего поставщика имеется широкий выбор токопроводящих клеящих составов для подготовки образцов СЭМ — в виде краски, пасты, аэрозолей и т. д. Покупайте все это в «Биотехнологии».

Системы хранения держателей образцов для СЭМ

Системы хранения держателей образцов для СЭМ

В «Биотехнологии» вы можете купить разнообразные системы хранения держателей образцов для СЭМ по выгодной цене. Пожалуйста, выбирайте из широкого ассортимента на сайте поставщика и заказывайте у нас.

Вакуумные осушители

Вакуумные осушители

Помимо простых систем хранения у нашего поставщика также можно выбрать вакуумные осушители и вакуумные насосы, помогающие создавать идеальные условия для хранения образцов. Пожалуйста, выбирайте на сайте поставщика и заказывайте товар в «Биотехнологии».

Локаторные сетки для поиска образцов SEM

Локаторные сетки для поиска образцов SEM

Мы также предлагаем выбрать на сайте поставщика и заказать в «Биотехнологии» локаторные сетки для поиска образцов SEM. Доступен широкий выбор систем поиска образцов в поле зрения электронного микроскопа.

Захваты для крепления образцов в РЭМ

Захваты для креплений образцов СЭМ

Для захвата креплений образцов для сканирующей электронной микроскопии со штифтовым штырем и цилиндрической конструкции.

Пожалуйста, выбирайте на сайте нашего поставщика захваты для удержания креплений образцов СЭМ штырькового типа и цилиндрической конструкции. Заказывайте эти товары в «Биотехнологии».

Пинцеты для работы с СЭМ-образцами

На сайте нашего поставщика доступен полный обзор типов пинцетов со ссылками. Выбирайте и заказывайте в «Биотехнологии».

Эти инструменты не предназначены для работы с живыми человеческими тканями, жидкостями или человеческими материалами, если это не указано в описании на сайте поставщика.

Предлагаемые пинцеты находят множество применений в науке, исследованиях и промышленности. Обратите внимание на высококачественные пинцеты DUMONT®, представленные в широком ассортименте.

пинцеты DUMONT®

Ниже приведен список с изображением металлов и кодов, используемых для их различения.

Группы пинцетов перечислены на сайте поставщика для быстрого перехода к конкретным типам.

Измерения точек пинцета должны учитываться для вашего применения. Например, самый острый, самый маленький (новый в том каталоге) - это номер 505-U, который представляет собой нержавеющую сталь с точками размером 0,025 x 0,005 мм. Это специальный пинцет, подходящий, например, для захвата электромагнитных сеток с очень гладких поверхностей. Для большинства применений не потребуется такой тонкий пинцет, поэтому выбор разнообразен.

Пинцет Dumont Dumostar™ - самый твердый пинцет. Они немагнитные и изготовлены из стали, устойчивой к коррозии (морская вода, HCl, H3PO4, HNO3, H2SO4). Они устойчивы к нейтральным и щелочным средам. DUMOSTAR™ от DUMONT превосходит лучшую нержавеющую сталь. Твердость наконечника прогрессирует и достигает своего пика в зоне пинцета стиля 5 с твердостью наконечника по Роквеллу в диапазоне 63-64.

Даже немагнитные стальные сплавы могут проявлять магнетизм при воздействии сильных магнитных полей. Полностью немагнитными являются только титановые или пластиковые пинцеты.

Сплавы и материалы (аббревиатуры для металлов и материалов:)

DS DUMOSTAR™

Смесь сплавов стали, хрома, никеля и кобальта, эластичный по своей природе для "гибких усталостных наконечников", выдерживает температуру до 550°C, немагнитный и антикоррозийный. Лучший материал для пинцета. Роквелл 63-64.

Нержавеющая сталь SS

Высокопрочный сплав хрома/углеродистой стали (различные составы) обеспечивает хорошую устойчивость к коррозии и краскам, уступает по твердости только DUMOSTAR™ Примечание: нержавеющая сталь может ржаветь при некоторых обстоятельствах.

Немагнитная нержавеющая сталь NM-SS

Те же свойства нержавеющей стали с добавлением никеля для создания немагнитных характеристик.

NM Немагнитная

Стандартный сплав, состоящий из C, Cr, Ni и Mo. Он обладает хорошей устойчивостью к коррозии благодаря высокой концентрации Mo и на 80% немагнитен, но не так тверд, как нержавеющая сталь NM. NM устойчив до температур около 400°C (DIN 50 914) и подходит для стерилизации в автоклаве при 270°C.

Титан Ti

Гибкие наконечники, немагнитные, легкий вес (на 33% меньше, чем у сплавов из нержавеющей стали), долговечные, низкий уровень осыпания частиц по сравнению с нержавеющей сталью, чрезвычайно устойчивы к кислотам и пятнам, гипоаллергенны. Хорошо подходит для использования вблизи чувствительной электроники или высоких магнитных полей. Выдерживает температуру свыше 400°C. Роквелл 36.

Углеродистая сталь CS

Очень прочный, твердый материал, менее гибкий и более хрупкий, чем DS, SS и Ti. Сильно магнитится, легко окрашивается и ржавеет. Роквелл 60.

Сплав нержавеющей стали DUMOXEL SS

Обладает высокой коррозионной стойкостью и обеспечивает мягкие, гибкие наконечники. Более устойчив к краскам, чем нержавеющая сталь, твердость по Роквеллу 63. 95% антимагнитность, устойчивость к температурам выше 400°C. Может подвергаться автоклавированию.

Сплав нержавеющей стали INOX SS

Состоит из специальной смеси углеродистой стали и хрома. Обеспечивает мягкие, гибкие наконечники, твердость по Роквеллу 55.

Также для выбора на сайте поставщика доступны пластмассовые пинцеты.

Вольфрамовые нити / катоды для электронных микроскопов

Вольфрамовые нити / катоды для электронных микроскопов

Вольфрамовые нити накаливания являются стандартным типом нитей, широко используемых в сканирующих электронных микроскопах, просвечивающих электронных микроскопах и микрозондовых системах. Вольфрамовые нити также называют катодами, эмиттерами электронов или источниками электронов. Высококачественные нити, которые мы предлагаем, изготавливаются в соответствии со спецификациями производителя оригинального оборудования с использованием специальных инструментов, гарантирующих правильную форму нитей и создание оптимального электронного пучка. Перед отправкой нити отжигаются в вакууме, не подвергаясь напряжению, и точно выравниваются. Пожалуйста, ознакомьтесь со списком на сайте поставщика, чтобы выбрать правильный тип нити для вашего SEM, TEM или EPMA. Покупайте вольфрамовые нити для ЭМ в «Биотехнологии».

Вольфрамовые нити изготавливаются из высококачественного вольфрама. Из всех металлов в чистом виде вольфрам имеет самую высокую температуру плавления (3422°C / 6192°F), самое низкое давление паров при температуре выше 1650°C (3000°F) и самую высокую прочность на разрыв. Вольфрам также имеет самый низкий коэффициент теплового расширения среди всех чистых металлов. Такое сочетание свойств делает вольфрам идеальным материалом.

Апертуры для электронных микроскопов

Апертуры для электронных микроскопов
Высококачественные апертуры, специально разработанные для использования в сканирующих и просвечивающих электронных микроскопах (SEM, FESEM и TEM), микрозондовых системах, системах с фокусированным ионным пучком (FIB) и рентгеновских системах. Изготовлены с высокой точностью просверленных отверстий и имеют оптимизированную форму для предотвращения рассеяния. Апертуры изготовлены с жесткими допусками в соответствии с дизайном производителей оригинального оборудования, предварительно очищены и индивидуально упакованы. Диафрагмы используются в качестве распылительных диафрагм в электронно-лучевых колоннах, ограничительных диафрагм или конечных диафрагм для объективов, оснащенных устройством смены диафрагм. Выпускаются из Pt/Ir (95:5%), Mo и Au (для некоторых апертур). Апертуры Pt/Ir могут быть очищены с помощью пламени или нагревательных устройств. Молибденовые апертуры, хранящиеся в атмосферных условиях, быстро окисляются, мы можем гарантировать работоспособность апертур Mo только в течение 4-6 недель после поставки. Наименьшее отверстие для апертур Pt/Ir составляет 5 мкм, для апертур Mo - 10 мкм. Имеются апертуры для всех существующих марок производителей ЭМ систем: FEI/Philips, JEOL, Hitachi, ZEISS/LEO, Cameca, Topcon, Tescan. Наш поставщик также поставляет апертуры, используемые для брендов, которые больше не производятся, но все еще используются: ISI/ABT, CamScan, Cambridge Instruments/Leica, Siemens, BalScan, ETEC/Autoscan, SEMCO/ZEISS Novascan и Nanolab. Пожалуйста, ознакомьтесь с конструкцией и техническими характеристиками на сайте нашего поставщика. Делайте свой выбор и покупайте апертуры для ЭМ в «Биотехнологии».

Лабораторные средства защиты

Лабораторные средства защиты

Пожалуйста, выбирайте у нашего поставщика лабораторные средства защиты для работы с электронными микроскопами и различными видами образцов. Выбирайте и заказывайте в «Биотехнологии».

Подготовка образцов для СЭМ

Для подготовки образцов СЭМ вы можете использовать шлифовальные и притирочные диски, листы, ленты, а также полировочные материалы, которые можно выбрать на сайте нашего поставщика. Выбирайте и заказывайте в «Биотехнологии».

Шлифовальные диски и материалы

Шлифовальные диски и материалы.

Притирочные диски, листы, ленты и другие материалы

Притирочные диски, листы, ленты и другие материалы.

Полировальные материалы

Полировальные материалы.

Вышеуказанные материалы применяются с использованием специализированного оборудования для подготовки образцов электронной микроскопии, которое можно купить в «Биотехнологии» по выгодным ценам. Пожалуйста, ознакомьтесь с разделами нашего каталога, посвященными Электронной микроскопии и Материаловедению.


Общелабораторное оборудование